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Caracterização de materiais

Serviço

Caracterização de materiais por técnicas de análise de superfícies e interfaces: espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) e espectroscopia de elétrons Auger (AES)

Descrição

Caracterização de materiais por técnicas de análise de superfícies e interfaces: espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) e espectroscopia de elétrons Auger (AES).

Contato

Waldemar Macedo
Email: wmacedo@cdtn.br
Telefone: (31) 3069-3370

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Seções

Endereço: Avenida Presidente Antônio Carlos, 6.627, Campus da UFMG - Pampulha - CEP 31270-901 - Belo Horizonte/MG